500-040-006 – Ablation laser Iridia Femto

Hauteur Z Dynamique

Des recherches approfondies ¹ ont montré qu'une distance fixe entre la coupelle de prélèvement et la surface de l'échantillon est souhaitable car elle permet de maintenir des conditions d'échantillonnage optimales (et répétable).
La distance optimale varie en fonction de l'application et de l'analyse particulière. Par exemple, elle peut être déterminée par le taux de répulsion, la taille du spot, la dureté de la matrice et l'énergie du laser, ainsi que par le type d'échantillon à ablater.
Des recherches ont montré qu'une distance comprise entre 60 µm et 500 µm est nécessaire et que la distance doit être cohérente et soigneusement maintenue tout au long du cycle à ± 10 µm du point de consigne. Il est important de comprendre que la distance doit être optimisée indépendamment de la focalisation du laser et qu'elle sera spécifique à l'application.

Dans les conceptions précédentes, la distance entre l'échantillon et le point d'extraction était généralement fixée à l'installation ou directement connectée à l'optique de focalisation du laser, mais des recherches scientifiques récentes ¹ ont montré que ces approches n'étaient pas suffisamment robustes d'un point de vue analytique pour ces conceptions de chambres d'échantillon plus efficaces.

La technologie Z dynamique permet de contrôler et de maintenir la distance entre la surface de l'échantillon et la cellule de collection des particules, indépendamment de la surface de l'échantillon et du plan focal du laser.